E+H 導(dǎo)波雷達(dá)物位計(jì)FMP45-AAKRGJB21A2Y

E+H Levelflex導(dǎo)波雷達(dá)物位計(jì)/儀
導(dǎo)波雷達(dá)傳物位儀在液體和固體中進(jìn)行連續(xù)物位測量

在導(dǎo)波雷達(dá)物位測量中，Levelflex自頂向下安裝，滿足所有行業(yè)應(yīng)用要求。導(dǎo)波雷達(dá)調(diào)試簡單、*操作方式，節(jié)省時(shí)間和成本。應(yīng)用廣泛：可以在簡單儲(chǔ)罐中，在腐蝕性介質(zhì)中或嚴(yán)重粉塵應(yīng)用中測量。點(diǎn)擊以下按鈕查看更多Levelflex導(dǎo)波雷達(dá)物位儀。在導(dǎo)波雷達(dá)物位測量中，Levelflex自頂向下安裝，滿足所有行業(yè)應(yīng)用要求。導(dǎo)波雷達(dá)調(diào)試簡單、*操作方式，節(jié)省時(shí)間和成本。應(yīng)用廣泛：可以在簡單儲(chǔ)罐中，在腐蝕性介質(zhì)中或嚴(yán)重粉塵應(yīng)用中測量。

導(dǎo)波雷達(dá)物位儀特別適用于液體和固體的物位測量。反射波安全傳輸使得介質(zhì)表面條件影響甚微。擾動(dòng)液體表面或泡沫形成，以及不同彎曲表面或熔爐出口不會(huì)影響測量。導(dǎo)波雷達(dá)是界面測量的優(yōu)選

E+H Levelflex導(dǎo)波雷達(dá)物位計(jì)/儀
導(dǎo)波雷達(dá)傳物位儀在液體和固體中進(jìn)行連續(xù)物位測量

在導(dǎo)波雷達(dá)物位測量中，Levelflex自頂向下安裝，滿足所有行業(yè)應(yīng)用要求。導(dǎo)波雷達(dá)調(diào)試簡單、*操作方式，節(jié)省時(shí)間和成本。應(yīng)用廣泛：可以在簡單儲(chǔ)罐中，在腐蝕性介質(zhì)中或嚴(yán)重粉塵應(yīng)用中測量。點(diǎn)擊以下按鈕查看更多Levelflex導(dǎo)波雷達(dá)物位儀。在導(dǎo)波雷達(dá)物位測量中，Levelflex自頂向下安裝，滿足所有行業(yè)應(yīng)用要求。導(dǎo)波雷達(dá)調(diào)試簡單、*操作方式，節(jié)省時(shí)間和成本。應(yīng)用廣泛：可以在簡單儲(chǔ)罐中，在腐蝕性介質(zhì)中或嚴(yán)重粉塵應(yīng)用中測量。

導(dǎo)波雷達(dá)物位儀特別適用于液體和固體的物位測量。反射波安全傳輸使得介質(zhì)表面條件影響甚微。擾動(dòng)液體表面或泡沫形成，以及不同彎曲表面或熔爐出口不會(huì)影響測量。導(dǎo)波雷達(dá)是界面測量的優(yōu)選

導(dǎo)波雷達(dá)測量基于行程時(shí)間原理工作

導(dǎo)波雷達(dá)測量：測量原理
Levelflex使用高頻雷達(dá)脈沖工作，脈沖沿探頭發(fā)射和傳播。脈沖觸及介質(zhì)表面，介電常數(shù)值(相對(duì)介電常數(shù))的變化導(dǎo)致部分發(fā)射脈沖被反射。儀表測量和分析脈沖發(fā)送和接收間的行程時(shí)間，直接測量過程連接和介質(zhì)表面間的距離。

優(yōu)勢
可靠測量：不受介質(zhì)表面和罐體內(nèi)部裝置或擋板的影響
底部回波算法(EoP)使得測量更加安全
在加料過程中也能安全測量

E+H料位計(jì)產(chǎn)品型號(hào)：

FMP40-ABB3GRJB21AA
FMP45-AAKRGJB21A2A
FMP45-AAKRGJB21A2Y
FMP50-AAACCAAAA1GDJ+AK
FMP51-AAACCAACB3CRJ+AK
FMP51-BBACCDBAB3ATJ+LA L=2400mm
FMP54-NCCECBUAD2PNJ+AKEFF4JAKPLA
FMP55-AAACCANACFK+AK(L=3.5米）
FMP57-AAACALCA4GDE+LA
FMP57-AAACCALAA4CQJAK L=4000MM
FMP57-AALCCALCA4GGE+LA L=13500mm
FMR10-AAQBMWDEWFE2+R7